IT之家 6 月 29 日消息，据科大硅谷公众号昨日消息，安徽凌光红外科技有限公司近日发布了 LUXET VERITAS 微光显微镜及激光诱导电阻变化（EMMI+OBIRCH）二合一显微镜，填补国内市场空白。 IT之家获悉，LUXET VERITAS 二合一显微镜深度融合 EMMI 微光检测与 OBIRCH 激光诱导电阻变化两大主流失效分析功能，一机两用、高度集成，全面覆盖半导体全链条检测需求。 据介绍，当前全球半导体产业步入先进制程时代，芯片内部结构愈发精密复杂，电性失效分析成为芯片研发迭代、良率提升与品质保障的核心环节。…